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HORIBA EMGA-Expert 氧氮氢分析仪-HORIBA科学仪器事业部-新品
发布时间:2024-07-03 来源:新闻资讯

  样品中的氧化物(氧元素)与石墨坩埚反应,以一氧化碳(CO)的形式释放开来,并与载气一起被提取。提取的气体经过除尘后直接做多元化的分析。根据样品中氧的浓度不同,实际的检测是用非分散红外检测技术测定CO或CO2(CO气体通过氧化剂(氧化铜)后生成的)从而确定氧元素的含量。

  样品中的氢在脉冲炉加热过程中以氢气的形式提取,再通过氧化剂(氧化铜)氧化成气态H2O后,用非色散红外检测器测定,从而计算氢元素的含量。

  样品中的氮加热后生成氮气(N2),随载气提取后由热导检测器(TCD)测定

  HORIBA充分的利用其40多年积累的经验,为客户提供从分析、维护到故障问题排除的全面实时支持,保证分析设备的平稳运行,提高检测效率,减少工作时间。

  除了自动进样器、自动清扫装置和坩埚自动加载系统(这些装置或系统均是为应对客户的需求而开发的)之外,全自动分析系统全方面提高检测流程的自动化,减少分析的工作量,实现稳定的分析。我们还依据各种应用或样品提供更多的可选单元,例如卤素捕集器等。

  HORIBA的专利探测器EMGA系列具有由HORIBA自己开发、设计和制造的NDIR气体探测器。基于详细的设计和先进的生产技术,在这些探测器的制作的完整过程中重视所有工艺过程,从部件的抛光和组装到稳定运行的调整和确认。我们的全面质量控制为EMGA系列提供了长期稳定且高度可靠的检测性能。此外,HORIBA也独自开发TCD检测器,保证这些分析仪能够展现其最佳性能。

  **已申请专利全新的下电极的维护仅仅是拆下电极片盖,然后更换下电极片,所需的维护时间缩短到了原来的1/10。

  **已经申请专利全新设计的粉尘过滤装置使其维护操作仅仅是更换过滤器中的过滤膜片,而且更换频率下降到了原来的1/10 ( 更换周期长达500次样品检测)。

  **已经申请专利对于常用的47升气瓶,一瓶气能够直接进行测量的次数从大约1400次明显地增加到2300次。

  EMGA系列独到的应用软件包括HORIBA几十年积累的分析诀窍----“分析导航”,它能够准确的通过测量样品信息给出最佳测量条件和操作程序;“维护导航”可以以视频方式指导维护操作;“故障分析导航”可以指示排除一些故障的方法和具体操作。

  维护导航给出明确的维护方法,引导用户按照标准程序完成维护工作项目,以视频方式指示具体的维护操作,确保维护工作安全、完整地进行,减少个人之间维护工作的差异,有助于分析仪的稳定运行。

  显示每个维护项目的维护周期计数限值和当前值,如果达到设维护周期计数限值,会给出相应项目要维护的提示报警。

  故障出现时,当前显示的报警屏幕会同时指示最佳排除方法,并以图像和视频解释怎么样做故障排除并恢复设备。关于故障排除的步骤和方法是实时在线给出的,这将缩短仪器的停机时间。

  丰富的定制化选项EMGA系列具有自动化检测所需的许多功能,节省检测工作的人力并确保安全。

  坩埚加载装置能自动将新坩埚添加到炉内,自动清扫装置能自动取出废坩埚并清扫电极炉,自动进样器能轻松实现自动投样,再加上全自动分析系统,EMGA分析设备实现了全面的自动化检测流程,同时保证清洁、安全的检测环境。另外,通过优化检测程序极大地检化了检测操作,操作者只需投入样品并输入预设值(测量条件和样品名称)后按下开始按钮即可。

  **专利号: JP05198947, JP05155751每次检测完成后,两个旋转刷自动清扫上、下电极,真空吸尘器同时吸走粉尘,避免污染。观看视频

  HORIBA Scientific推出新品EMGA-Expert氧氮氢分析仪,是面对更高准确性检测和更广泛的分析应用领域的高端型仪器。其在检测速度、准确性及易用性等性能方面皆有大幅度提高。HORIBA的专有算法和气流优化将传统的分析时间减少了40%。先进的专有技术保证了从ppm到百分含量级别的大检验测试范围和超高检测精度。此外,其采用全新结构的可更换下电极片,大幅度减少了操作所需时间;而新型粉尘过滤器则大大降低了维护频次。同时,检测速度的大幅度提升也有助于减少载气消耗量,降低企业运行成本。 HORIBA Scientific还应客户的需求开发了自动进样器、自动清扫装置和坩埚自动加载系统,大幅度的提升了工作效率。EMGA-Expert氧氮氢分析仪还配有全自动分析系统,能全方面提高检测流程的自动化,减少分析的工作量,实现全自动的稳定分析。功能强大的高度用户友好型软件让任何人都能完成专业级分析检测。该产品可大范围的应用于钢铁、有色金属冶炼、金属加工、陶瓷材料、电子材料及新材料开发。

  宁夏化学分析测试协会批准发布《水质 八氯联苯(PCB194)的测定 液液萃取/气相色谱-质谱法》等2项团体标准

  【第三轮通知】2024中国检测技术和半导体应用大会暨半导体分析检验测试仪器与设备发展论坛

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